Journal de Physique IV

Defects in vitreous SiO₂ probed by positron annihilation

A. UEDONO, L. WEI, X. LI et S. TANIGAWA

J. Phys. IV France, 03 C4 (1993) C4-209-C4-211

DOI: 10.1051/jp4:1993430

A. UEDONO

L. WEI

X. LI

S. TANIGAWA

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