Journal de Physique IV

HIGH RESOLUTION ELECTRON BEAM INJECTION IN SEMICONDUCTORS USING A SCANNING TUNNELING MICROSCOPE

S.F. ALVARADO, Ph. RENAUD et H.P. MEIER

J. Phys. IV France, 01 C6 (1991) C6-271-C6-275

DOI: 10.1051/jp4:1991641

S.F. ALVARADO

Ph. RENAUD

H.P. MEIER

articles ayant parmi leurs auteurs TOUS les auteurs sélectionnés (ET)

articles ayant parmi leurs auteurs AU MOINS un auteur identique à ceux sélectionnés (OU)