De la mesure de pertes à la caractérisation dynamique de dispositifs semiconducteurs L. Lanco, A. De Rossi, S. Ducci, G. Leo, X. Marcadet, M. Calligaro et V. BergerJ. Phys. IV France, 135 (2006) 281-282DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2006135089
