Interrogation d'un ion unique pour la métrologie optique G. Hagel, C. Champenois, C. Lisowski, D. Guyomarc'h, M. Houssin, M. Vedel, M. Knoop et F. VedelJ. Phys. IV France, 135 (2006) 163-164DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2006135041
