Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES)
J. Phys. IV France, 118 1 (2004) 447-455
DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118052