Diffusion des rayonnements X et visibles ; microscopie en champ proche : utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces E. Tollens, S. Menecier, Y. Haidar, C. Zerrouki, M. Chassevent, F. de Fornel et J.J. BonnetJ. Phys. IV France, 118 1 (2004) 395-405DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118046
