Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X P. Jonnard, J.-M. André, J. Gautier, M. Roulliay, F. Bridou, F. Delmotte et M.-F. RavetJ. Phys. IV France, 118 1 (2004) 231-236DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118027
