Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères
J. Phys. IV France, 118 1 (2004) 193-202
DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118023