Réflexion et fluorescence X : une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces C. Zerrouki, M. Chassevent, N. Fourati, E. Tollens et J. J. BonnetJ. Phys. IV France, 118 1 (2004) 149-155DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118018
