Étude structurale de nanomatériaux par diffraction X : utilisation d'un montage avec optique multicouche à collimation 2D L. Ortega, C. Bouchard, R. Bruyère et P. BordetJ. Phys. IV France, 118 1 (2004) 71-75DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118008
