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Hard X-ray phase-contrast microscope for observing transparent specimens

Y. Kagoshima, Y. Yokoyama, T. Niimi, T. Koyama, Y. Tsusaka, J. Matsui et K. Takai

J. Phys. IV France, 104 (2003) 49-52

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:200300027

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