Études par diffraction haute résolution et réflectivité de films minces épitaxiés P. Baulès, M.J. Casanove, C. Roucau, J.C. Ousset, J.F. Bobo, E. Snoeck, D. Magnoux et C. GatelJ. Phys. IV France, 12 6 (2002) 247-254DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20020233
