Calibration de lames de phase par interférométrie à 13 nm P. Pichon, D. Joyeux, D. Phalippou, M. Singh, J. Braat, M. Haidl et U. DingerJ. Phys. IV France, 11 PR7 (2001) Pr7-25-Pr7-26DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2001708
