Analyse par EXAFS d'agrégats de platine de taille nanométrique soumis à différents gaz réactifs S. Schneider, D. Bazin, G. Meunier, F. Garin et G. MaireJ. Phys. IV France, 10 PR10 (2000) Pr10-299-Pr10-309DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20001033
