Étude de la croissance de l'interface Ni/MgO(001) par diffraction de rayons X en incidence rasante A. Barbier, G. Renaud et O. RobachJ. Phys. IV France, 08 PR4 (1998) Pr4-221-Pr4-226DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998427
