Nouvelles applications de la spectrométrie d'émission X induite par excitation électronique de basse énergie (LEEIXS) en analyse de surface M. Romand, M. Charbonnier et J. BaborowskiJ. Phys. IV France, 06 C4 (1996) C4-467-C4-474DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996443
