Etude de l'effet de prétraitements sur la topographie des surfaces orientées de platine par deux méthodes indépendantes : voltammétrie et STM J. CLAVILIER, J. M. ORTS et J. M. FELIUJ. Phys. IV France, 04 C1 (1994) C1-303-C1-308DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1994122
