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Study of gallium arsenide on silicon by small angle X-ray scattering

V. VEZIN, H. OKUDA, K. OSAMURA, Y. AMEMIYA, K. KITAHARA et K. NAKAJIMA

J. Phys. IV France, 03 C8 (1993) C8-381-C8-384

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1993879

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