ÉVALUATION DE L'ADHÉRENCE PAR ULTRASONS HAUTE-FRÉQUENCE M. OUAFTOUH, W. J. XU, M. OURAK et B. NONGAILLARDJ. Phys. IV France, 02 C1 (1992) C1-835-C1-838DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:19921182
