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Article cité :

Remote Microwave Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition of SiO₂ Films : Oxygen Plasma Diagnostic

C. Regnier, J. Desmaison, P. Tristant, D. Merle

J. Phys. IV France, 05 C5 (1995) C5-621-C5-628

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1995574

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Citations de cet article :

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M. V. Mishin, V. S. Protopopova, A. A. Uvarov and S. E. Alexandrov
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