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Article cité :

On the origin of basal stacking faults in nonpolar wurtzite films epitaxially grown on sapphire substrates

P. Vennéguès, J. M. Chauveau, Z. Bougrioua, et al.
Journal of Applied Physics 112 (11) (2012)
https://doi.org/10.1063/1.4768686

Morphological and microstructural evolution in the two-step growth of nonpolar a-plane GaN on r-plane sapphire

Qian Sun, Bo Hyun Kong, Christopher D. Yerino, et al.
Journal of Applied Physics 106 (12) (2009)
https://doi.org/10.1063/1.3272790

Interfacial structure and defect analysis of nonpolar ZnO films grown on R-plane sapphire by molecular beam epitaxy

P. Vennéguès, J. M. Chauveau, M. Korytov, et al.
Journal of Applied Physics 103 (8) (2008)
https://doi.org/10.1063/1.2905220

Development of Homoepitaxially Grown GaN Thin Film Layers on Freestanding Bulk m-plane Substrates by Metalorganic Chemical Vapor Deposition (MOCVD)

Vibhu Jindal, James Grandusky, Neeraj Tripathi, et al.
MRS Proceedings 1040 (2007)
https://doi.org/10.1557/PROC-1040-Q01-08

Reduction of stacking faults in (11$ \bar 2 $0) and (11$ \bar 2 $2) GaN films by ELO techniques and benefit on GaN wells emission

Z. Bougrioua, M. Laügt, P. Vennéguès, et al.
physica status solidi (a) 204 (1) 282 (2007)
https://doi.org/10.1002/pssa.200673585

Interfacial structure of a-plane GaN grown on r-plane sapphire

R. Kröger, T. Paskova, S. Figge, et al.
Applied Physics Letters 90 (8) 081918 (2007)
https://doi.org/10.1063/1.2696309

Defect structure of a‐plane GaN grown by hydride and metal‐organic vapor phase epitaxy on r‐plane sapphire

R. Kröger, T. Paskova, B. Monemar, et al.
physica status solidi c 4 (7) 2564 (2007)
https://doi.org/10.1002/pssc.200674909