Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X

P. Jonnard, J.-M. André, J. Gautier, M. Roulliay, F. Bridou, F. Delmotte, M.-F. Ravet

J. Phys. IV France, 118 (2004) 231-236

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118027

PDF (758.6 KB)

Citations de cet article :

Non-destructive X-ray study of the interphases in Mo/Si and Mo/B4C/Si/B4C multilayers

H. Maury, P. Jonnard, J.-M. André, et al.
Thin Solid Films 514 (1-2) 278 (2006)
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2006.02.073

Analysis of a B4C/Mo/Si multilayer interferential mirror by SIMS: influence of the sputtering ion

H. Maury, P. Holliger, B. Farès, et al.
Surface and Interface Analysis 38 (4) 781 (2006)
https://doi.org/10.1002/sia.2154

Physico-chemical and X-ray optical characterizations of a Mo/Si multilayer interferential mirror upon annealing

P. Jonnard, I. Jarrige, R. Benbalagh, et al.
Surface Science 589 (1-3) 164 (2005)
https://doi.org/10.1016/j.susc.2005.05.058

MONOX: a characterization tool for the X-UV range

J.-M. André, A. Avila, R. Barchewitz, et al.
The European Physical Journal Applied Physics 31 (2) 147 (2005)
https://doi.org/10.1051/epjap:2005047