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Article cité :

Critical comparison of recent analysis methods of X-ray and neutron reflectivity data

A. van der Lee

J. Phys. IV France, 12 6 (2002) 255-264

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20020234

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Citations de cet article :

Fitting a free-form scattering length density profile to reflectivity data using temperature-proportional quenching

Charles F. Laub and Tonya L. Kuhl
The Journal of Chemical Physics 125 (24) 244702 (2006)
https://doi.org/10.1063/1.2403126

Fourier-inversion and wavelet-transform methods applied to X-ray reflectometry and HRXRD profiles from complex thin-layered heterostructures

O. Durand and N. Morizet
Applied Surface Science 253 (1) 133 (2006)
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.05.106