New interface effects in ferroelectric thin films
J. Phys. IV France, 11 PR11 (2001) Pr11-9-Pr11-19
Article cité par
La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Article cité :
Citations de cet article :
Thickness and temperature dependent electrical characteristics of crystalline BaxSr1−xTiO3 thin films
B. Panda, A. Roy, A. Dhar and S. K. RayJournal of Applied Physics 101 (6) 064116 (2007)
https://doi.org/10.1063/1.2714769
[3D] Nano-Scale Ferroelectric Devices for Memory Applications
J. F. ScottFerroelectrics 314 (1) 207 (2005)
https://doi.org/10.1080/00150190590926490
Unipolar fatigue of ferroelectric lead–zirconate–titanate
C Verdier, D.C Lupascu and J RödelJournal of the European Ceramic Society 23 (9) 1409 (2003)
https://doi.org/10.1016/S0955-2219(02)00351-5
Cyclic Cluster Growth in Ferroelectric Perovskites
Doru Lupascu and Ute RabePhysical Review Letters 89 (18) 187601 (2002)
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.89.187601
Thickness-dependent dielectric constants of (Ba,Sr)TiO3 thin films with Pt or conducting oxide electrodes
Cheol Seong HwangJournal of Applied Physics 92 (1) 432 (2002)
https://doi.org/10.1063/1.1483105
Degradation of the dielectric permittivity of a strongly oriented Ba0.25Sr0.75TiO3 layer by replacing a SrRuO3 electrode with an Ag one
Yu. A. Boikov and T. ClaesonApplied Physics Letters 80 (24) 4603 (2002)
https://doi.org/10.1063/1.1485318
Size effect and fatigue mechanism in ferroelectric thin films
H. Z. Jin and Jing ZhuJournal of Applied Physics 92 (8) 4594 (2002)
https://doi.org/10.1063/1.1506193