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Measurement of in-plane displacement fields by a spectral phase algorithm applied to numerical speckle photograph for microtensile tests
C. Poilane, E. Lantz, G. Tribillon and P. Delobelle The European Physical Journal Applied Physics 11(2) 131 (2000) https://doi.org/10.1051/epjap:2000154
Determination of the mechanical properties of thin polyimide films deposited on a GaAs substrate by bulging and nanoindentation tests