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Article cité :

Ultrasonic Attenuation Measurements in Neutron-Irradiated Silicon

M. Coeck, C. Laermans

J. Phys. IV France, 06 C8 (1996) C8-625-C8-628

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:19968134

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Citations de cet article :

Atomic force microscopy investigation of dislocation structures and deformation characteristics in neutron-irradiated silicon detectors

G Golan, E Rabinovich, A Inberg, et al.
Microelectronics Journal 31 (11-12) 937 (2000)
https://doi.org/10.1016/S0026-2692(00)00093-8