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Article cité :

Materials Applications of an Advanced 3-Dimensional Atom Probe

A. Cerezo, D. Gibuoin, S. Kim, S.J. Sijbrandij, F.M. Venker, P.J. Warren, J. Wilde, G.D.W. Smith

J. Phys. IV France, 06 C5 (1996) C5-205-C5-210

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1996533

PDF (2.104 MB)

Citations de cet article :

Atomic scale investigations on CdxZn1−xSe quantum dots: Correlation between the composition and emission properties

H. Benallali, T. Cremel, K. Hoummada, et al.
Applied Physics Letters 105 (5) (2014)
https://doi.org/10.1063/1.4891635

Depth resolution function of the laser assisted tomographic atom probe in the investigation of semiconductors

Emmanuel Cadel, François Vurpillot, Rodrigue Lardé, Sébastien Duguay and Bernard Deconihout
Journal of Applied Physics 106 (4) (2009)
https://doi.org/10.1063/1.3186617

Site preference of Ru and Pd additions to γ-based TiAl intermetallics

S. Kim, D. Nguyen-Manh, G. D. W. Smith and D. G. Pettifor
Philosophical Magazine A 80 (11) 2489 (2000)
https://doi.org/10.1080/01418610008216487