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Article cité :

High resolution positron-annihilation spectroscopy with a new positron microprobe

H. Greif, M. Haaks, U. Holzwarth, et al.
Applied Physics Letters 71 (15) 2115 (1997)
https://doi.org/10.1063/1.120451

A scanning positron microscope for defect analysis in materials science

W. Triftshäuser, G. Kögel, P. Sperr, et al.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 130 (1-4) 264 (1997)
https://doi.org/10.1016/S0168-583X(97)00174-2