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Article cité :

Texture analyses of chemically vapor deposited coatings in the Ti-C-N system by wide film Debye-Scherrer X-ray diffraction technique

S. EROGLU, B. GALLOIS

J. Phys. IV France, 03 C3 (1993) C3-177-C3-182

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1993322

PDF (2.050 MB)

Citations de cet article :

EBSD study of (110) orientation of Iridium (Ir) coating on (Nb) substrate by double glow plasma

Wangping WU and Zhaofeng CHEN
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms (2013)
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2012.12.069