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X-ray diffraction study of the sub-structure modification induced by residual stresses during the deposition process of 304L stainless steel films

Ph. Goudeau, B. Boubeker, J.P. Eymery and V. Branger
Thin Solid Films 275 (1-2) 188 (1996)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(95)07039-7