Une technique de correction du "décalage" d'un échantillon au cours d'expériences sur un diffractomètre à compteur à localisation courbe

Résumé
L'effet d'un décalage de l'échantillon au sein d'un diffractomètre équipé d'un compteur à localisation courbe est analysé. Une technique permettant de corriger l'effet de ces décalages d'échantillon sur le positionnement des raies de diffraction est proposée. Cette technique a été mise en application pour l'exploitation d'expériences diffractométriques en température sur des poudres minérales. Les effets des déplacements d'échantillon, induits par les dilatations thermiques des dispositifs de maintien, ont pu être corrigés permettant des études des évolutions de paramètres cristallins des matériaux malgré l'absence de moyens précis de réglage de la position de l'échantillon.

Abstract
The effect of a sample gap in a diffractometer fïtted out with a curve detector is analyzed. A method of correction of the effect of this gap on line positions is proposed. This technique has been used for data analyses of in situ diffraction experiments on mineral powder. The effects on line positions of the sample gap due to the thermal expansion of the sample holder have been corrected allowing cell parameters measurements despite the absence of reliable means of sample adjustement.