| Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 04, Numéro C3, Février 1994
36ème Colloque de Métallurgie de l'INSTNCHANGEMENTS DE PHASES ET MICROSTRUCTURES |
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|---|---|---|
| Page(s) | C3-263 - C3-271 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1994336 | |
36ème Colloque de Métallurgie de l'INSTN
CHANGEMENTS DE PHASES ET MICROSTRUCTURES
J. Phys. IV France 04 (1994) C3-263-C3-271
DOI: 10.1051/jp4:1994336
1 Université Claude Bernard Lyon I, Département de Physique des Matériaux, URA 172 du CNRS, 69622 Villeurbanne cedex, France
2 Laboratoire de Physique de la Matière, I.N.S.A., 20 Avenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne cedex, France
3 Laboratoire de Cristallographie, C.N.R.S., 25 Avenue des Martyrs, BP. 166 X, 38042 Grenoble cedex, France
© EDP Sciences 1994
CHANGEMENTS DE PHASES ET MICROSTRUCTURES
J. Phys. IV France 04 (1994) C3-263-C3-271
DOI: 10.1051/jp4:1994336
Chemical effects in ion beam mixing of Fe-Al multilayers
R. BRENIER1, B. CANUT1, L. GEA1, S.M.M. RAMOS1, P. THEVENARD1, C. DUBOIS2, J.C. DUPUY2, G. PRUDON2 and M. BRUNEL31 Université Claude Bernard Lyon I, Département de Physique des Matériaux, URA 172 du CNRS, 69622 Villeurbanne cedex, France
2 Laboratoire de Physique de la Matière, I.N.S.A., 20 Avenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne cedex, France
3 Laboratoire de Cristallographie, C.N.R.S., 25 Avenue des Martyrs, BP. 166 X, 38042 Grenoble cedex, France
Abstract
Fe-Al multilayers have been mixed with Xe+ ions at high temperatures. The composition depth profiles have been analyzed by secondary ion mass spectroscopy (SIMS). It is shown that SIMS reveals the Al-rich compound formation inside the initial Al layers, and that this point cannot be questioned by exaltation effect on Fe+ or Al+ ion intensities. Phase formation has been proved by X-ray diffraction at grazing incidence.
© EDP Sciences 1994