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Table of contents

J. Phys. IV France Vol. 118 No. 1

Journal de Physique IV (Proceedings)

Vol. 118 (November 2004)

Rayons X et Matière - RX 2003
9-11 décembre 2003 - Strasbourg, France

A. Cornet, P. Denier, N. Broll, Eds.

ISBN 2-86883-759-X



  • Préface     p. V
    Alain Cornet
    Abstract | PDF file (41.8 KB)


  • Protein crystallization: Contribution of small angle X-ray scattering (SAXS)     p. 3
    F. Bonneté, N. Ferté, J.P. Astier and S. Veesler
    Abstract | PDF file (270 KB)


  • Analyses d'épaisseurs de couches monophasées par diffraction X en dispersion d'énergie - application à la nitruration     p. 15
    F. Convert
    Abstract | PDF file (438 KB)


  • Lattice distortion and basal slip bands in deformed ice crystals revealed by hard X-ray diffraction     p. 27
    B. Hamelin, P. Bastie, P. Duval, J. Chevy and M. Montagnat
    Abstract | PDF file (166 KB)


  • X-ray orientation determination of single crystals by means of the $\Omega$-Scan Method     p. 37
    H. Berger
    Abstract | PDF file (121 KB)


  • Synthesis and characterisation of a new hydrated bismuth (III) oxalate : Bi2(C2O4)3,6H2O     p. 43
    L. Tortet, O. Monnereau, P. Roussel and P. Conflant
    Abstract | PDF file (129 KB)


  • Étude des déplacements induits par des précipités dans des alliages à base de cuivre     p. 63
    I. Guillon, C. Servant and O. Lyon
    Abstract | PDF file (109 KB)


  • Étude structurale de nanomatériaux par diffraction X : utilisation d'un montage avec optique multicouche à collimation 2D     p. 71
    L. Ortega, C. Bouchard, R. Bruyère and P. Bordet
    Abstract | PDF file (124 KB)


  • Cristallisation dans les verres de silicates contenant du molybdène et du phosphore     p. 79
    C. Cousi, F. Bart and J. Phalippou
    Abstract | PDF file (532 KB)


  • Étude des modifications structurales de l'eau confinée dans le gel de silice     p. 85
    A. Fouzri, R. Dorbez-Sridi and M. Oumezzine
    Abstract | PDF file (213 KB)


  • Modeling of the amorphous diamond-like carbon     p. 93
    M. Popescu, F. Sava and H. Bradaczek
    Abstract | PDF file (125 KB)


  • Expression de l'incertitude lors de la mesure de contraintes résiduelles par diffraction     p. 99
    M. François, C. Ferreira and R. Guillén
    Abstract | PDF file (90.1 KB)


  • Simulation et détermination par rayons X des contraintes dans des micro-composants modèles     p. 109
    A. Loubens, R.Y. Fillit, R. Fortunier and O. Thomas
    Abstract | PDF file (237 KB)


  • Étude structurale par rayonnement synchrotron de superréseaux d'oxydes pérovskites     p. 119
    M. Nemoz, E. Dooryhee, J.-L. Hodeau and C. Dubourdieu
    Abstract | PDF file (416 KB)


  • Contribution of the synchrotron diffraction study of the oxidation of uranium dioxide at 250$^{\circ}$C     p. 127
    G. Rousseau, L. Desgranges, J.C. Nièpce, G. Baldinozzi and J.F. Bérar
    Abstract | PDF file (110 KB)


  • Analyse de l'intensité de fluorescence émise par une multicouche périodique sous rayonnement synchrotron. Application à l'étude de la répartition spatiale des éléments dans l'empilement     p. 137
    F. Bridou, G. Cauchon and M. Idir
    Abstract | PDF file (574 KB)


  • Applications en pétrochimie, d'un spectromètre de fluorescence de rayons X d'entrée de gamme, dispersif en longueur d'onde (WDXRF)     p. 143
    C.P. Lienemann, E. Roche, R. Yellepeddi, D. Bonvin and G. Matula
    Abstract | PDF file (174 KB)


  • Réflexion et fluorescence X : une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces     p. 149
    C. Zerrouki, M. Chassevent, N. Fourati, E. Tollens and J. J. Bonnet
    Abstract | PDF file (772 KB)


  • Influence d'une substitution partielle du ciment par du laitier de hauts fourneaux sur la résistance des mortiers en milieu acide     p. 159
    D. Achoura, Ch. Lanos, R. Jauberthie and B. Redjel
    Abstract | PDF file (157 KB)


  • Sodium doped lanthanum manganites thin films: Influence of the oxygen content on the structural parameters     p. 165
    I. Alessandri, E. Bontempi, L. Sangaletti, S. Pagliara, L. Malavasi, F. Parmigiani, G. Flor and L. E. Depero
    Abstract | PDF file (213 KB)


  • MONOX: un nouveau spectrogoniomètre pour le rayonnement X mou et X-UV     p. 173
    J.-M. André, A. Avila, R. Barchewitz, R. Benbalagh, R. Delaunay, D. Druart, M.-F. Fontaine and H. Ringuenet
    Abstract | PDF file (89.3 KB)


  • Étude de la microstructure de couches minces par diffraction des rayons X : description analytique des profils de raie     p. 183
    A. Boulle, R. Guinebretière and A. Dauger
    Abstract | PDF file (238 KB)


  • Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères     p. 193
    M. Charbonnier, D. Leonard, Y. Goepfert and M. Romand
    Abstract | PDF file (111 KB)


  • High-resolution X-ray diffractometry and X-ray reflectometry techniques for structural studies of complicated thin-layered heterostructures: Complementarity between Fourier Transform-based procedures and simulation softwares     p. 203
    O.Durand, A. De Rossi and A. Bouchier
    Abstract | PDF file (135 KB)


  • Analysis of AuPd thin coatings on lead frames     p. 213
    M. Haschke and J-C. Lecomte
    Abstract | PDF file (129 KB)


  • Étude, par réflectométrie X, de la structure de monocouches d'acide arachidique déposées à la surface du mercure liquide     p. 221
    B. Harzallah and R. Cortès
    Abstract | PDF file (120 KB)


  • Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X     p. 231
    P. Jonnard, J.-M. André, J. Gautier, M. Roulliay, F. Bridou, F. Delmotte and M.-F. Ravet
    Abstract | PDF file (758 KB)


  • Electron scattering by gas in the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM): Effects on the image quality and on the X-ray microanalysis     p. 237
    L. Khouchaf and J. Verstraete
    Abstract | PDF file (86.3 KB)


  • Analyses par diffraction de rayons X sur des revêtements barrières thermiques réalisés par un procédé hybride plasma-laser     p. 247
    G. Antou, F. Hlawka, G. Montavon, M. Bach, A. Cornet and C. Coddet
    Abstract | PDF file (387 KB)


  • La diffraction des rayons X durs : un nouvel outil pour les géosciences. Application aux quartz naturels     p. 259
    P. Bastie, G. Dolino, B. Hamelin and N. Meisser
    Abstract | PDF file (65.5 KB)


  • Comportement de la xonotlite exposée aux hautes températures     p. 267
    C. Baux, C. Daiguebonne, C. Lanos, O. Guillou, R. Jauberthie and Y. Gérault
    Abstract | PDF file (406 KB)


  • Étude de la contribution de la diffusion simple et multiple à l'amplitude des atomes voisins du silicium dans SiO2 : application à un granulat soumis à la réaction alcali-silice     p. 277
    F. Boinski, L. Khouchaf, J. Verstraete and M.H. Tuilier
    Abstract | PDF file (73.2 KB)


  • Étude par diffraction X de l'oxydation à 500$^{\circ}$C de poudres quasicristallines AlCuFe     p. 283
    G. Bonhomme, P. Weisbecker, G. Bott and J.M. Dubois
    Abstract | PDF file (733 KB)


  • X-ray characterisation of bulk stones from the patina to the depth stone     p. 295
    B. Brunet-Imbault, I. Rannou and F. Muller
    Abstract | PDF file (115 KB)


  • Influence de l'environnement sur la tenue des ciments alumineux     p. 301
    P. Coatanlem and R. Jauberthie
    Abstract | PDF file (147 KB)


  • In situ X-ray diffraction contribution to the study of reactive element oxide coating effect on the high temperature oxidation behaviour of FeCrAl alloys     p. 307
    R. Cueff, H. Buscail, E. Caudron, F. Riffard, C. Issartel, S. Perrier and S. El Messki
    Abstract | PDF file (104 KB)


  • Étude de l'effet du magnésium sur l'oxydation à haute température (1100$^{\circ}$C-1200$^{\circ}$C) d'un alliage FeCrAl avec misch-métal     p. 315
    S. El messki, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, F. Riffard, C. Issartel and S. Perrier
    Abstract | PDF file (1.02 MB)


  • Effets du titane et du niobium sur l'oxydation à 950$^{\circ}$C d'aciers ferritiques     p. 323
    C. Issartel, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, F. Riffard, S. El Messki, N. Karimi and L. Antoni
    Abstract | PDF file (510 KB)


  • X-ray scattering evidence of a new short range order or correlation in the high Tc superconductor Bi2Sr2CaCu2O $_{8+\delta}$     p. 333
    S. Megtert, J. Avila, M. Izquierdo, P.A. Albouy, G. Gu, M.C. Asensio and R. Comes
    Abstract | PDF file (405 KB)


  • X-ray diffraction and microscopy investigations of structural inhomogeneities in NiMnSb crystallised from the melt     p. 343
    O. Monnereau, F. Guinneton, L.Tortet, A.Garnier, R. Notonier, M. Cernea, S.A Manea and C. Grigorescu
    Abstract | PDF file (109 KB)


  • Diffraction de rayons X sur les plaquettes de fer durcies par cyanuration     p. 351
    M. Popescu, W. Hoyer, M. Stegarescu, A. Cornet and N. Broll
    Abstract | PDF file (47.8 KB)


  • Characterisation and understanding of TRIP steels     p. 355
    A. Poulon-Quintin, J.B. Vogt, V. Shivanyuk and J. Foct
    Abstract | PDF file (504 KB)


  • Application de la diffraction des rayons X in situ à haute température pour l'identification d'une nouvelle phase lors de l'oxydation à 900$^{\circ}$C de l'acier 304     p. 369
    F. Riffard, H. Buscail, E. Caudron, R. Cueff, C. Issartel, S. El Messki and S. Perrier
    Abstract | PDF file (161 KB)


  • La diffraction des rayons X au service de la conservation des bois archéologiques gorgés d'eau     p. 377
    I. Schuster, J. Pécaut and K. Tran
    Abstract | PDF file (369 KB)


  • D'une olivine naturelle à un catalyseur industriel au nickel pour la production d'hydrogène à partir de biomasse     p. 385
    D. Swierczynski, C. Courson, J. Guille and A. Kiennemann
    Abstract | PDF file (273 KB)


  • Diffusion des rayonnements X et visibles ; microscopie en champ proche : utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces     p. 395
    E. Tollens, S. Menecier, Y. Haidar, C. Zerrouki, M. Chassevent, F. de Fornel and J.J. Bonnet
    Abstract | PDF file (791 KB)


  • Étude de la variation du paramètre de réseau de solutions solides Cu-Ni par diffraction des rayons X     p. 409
    B. Allili, A. Raho and M. Kadi-Hanifi
    Abstract | PDF file (39.4 KB)


  • Investigation of I.C. samples using X-ray computer tomography     p. 413
    S. Bord, A. Clement, J.C. Lecomte and J.C. Marmeggi
    Abstract | PDF file (64.8 KB)


  • Étude structurale des composés YCo $_{\rm 4-x}$Ni$_{\rm x}$B par diffraction anomale des rayons X     p. 419
    C. Chacon, O.Isnard and J.-F. Bérar
    Abstract | PDF file (183 KB)


  • Radiographie par rayons X à haute résolution de défauts topologiques en volume de structures modulées comparée aux neutrons en faisceau blanc     p. 431
    J. Fernandez Palacio, B. Hamelin and J.C. Marmeggi
    Abstract | PDF file (366 KB)


  • Imagerie 2D et 3D de matériaux monocristallins : topographie et tomographie en diffraction rayons X de très haute énergie     p. 437
    B. Hamelin, P. Bastie, D. Richard and A. Eiaazzouzi
    Abstract | PDF file (933 KB)


  • Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES)     p. 447
    A. Rahmani, F. Benyaïch, M. Bounakhla, E. Bilal, J. Moutte, J.J. Gruffat and F. Zahry
    Abstract | PDF file (118 KB)







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