Accès gratuit
Numéro
J. Phys. IV France
Volume 138, December 2006
Page(s) 245 - 250
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2006138028
Publié en ligne 6 janvier 2007
8e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents
R. Moncorgé et J.L. Doualan
J. Phys. IV France 138 (2006) 245-250

DOI: 10.1051/jp4:2006138028

Microscopie interférentielle X-UV : un outil pour l'étude des endommagements des surfaces optiques

G. Jamelot1, D. Ros1, K. Cassou1, S. Kazamias1, A. Klisnick1, M. Kozlová2, T. Mocek2, P. Homer2, J. Polan2 and M. Stupka2, 2

1  LIXAM, Laboratoire d'Interaction du Rayonnement X avec la Matière, UMR 8624, Bât. 350, Campus de l'Université Paris XI, 91405 Orsay Cedex, France
2  Institute of Physics, Pals Centre, Prague 8, Czech Republic


(Publié en ligne le 6 janvier 2007)

Résumé
Nous présentons des résultats récents concernant des premières investigations de microscopie interférentielle par laser X-UV d'endommagement optique. Le laser X-UV utilisé est un laser collisionnel en régime quasi-stationnaire émettant à 21.2 nm, développé au Prague Asterix Laser System (PALS, Prague, République Tchèque). Des échantillons de silice fondue de haute qualité, avec ou sans rayure, étaient irradiées en face avant par un laser bleu, correspondant au $3^{\selectfont\fontsize{7}{9}{\textrm{\\lq {e}me}}}$ harmonique du laser à iode du PALS (1.315 $\mu $m), servant également à réaliser le laser X-UV à 21.2 nm. Celui-ci était utilisé, 5 ns après l'irradiation pour réaliser une imagerie microscopique et interférentielle de la face arrière de l'échantillon. Les résultats font apparaître des déformations locales transitoires. Des premières analyses mettent en évidence une probable variation de la rugosité de la surface. Cette démonstration expérimentale encourageante ouvre la voie à de futures investigations, notamment sur notre prochaine installation laser : LASERIX.



© EDP Sciences 2006