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Numéro
J. Phys. IV France
Volume 138, December 2006
Page(s) 163 - 169
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2006138019
Publié en ligne 6 janvier 2007
8e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents
R. Moncorgé et J.L. Doualan
J. Phys. IV France 138 (2006) 163-169

DOI: 10.1051/jp4:2006138019

Caractérisation du seuil de dommage dans les cristaux de saphir dopé au titane avec des impulsions de durée nanoseconde, picoseconde et femtoseconde

F. Canova1, J.-P. Chambaret1, G. Mourou1, M. Sentis2, O. Uteza2 and P. Delaporte2, 2

1  LOA, ENSTA, École Polytechnique, Chemin de la Hunière, 91761 Palaiseau Cedex, France
2  LP3 Pôle Scientifique et Technologique de Luminy, 163 avenue de Luminy, C. 917, 13288 Marseille Cedex 9, France


(Publié en ligne le 6 janvier 2007)

Résumé
Le verrou principal pour le développement des systèmes femtoseconde robustes et rentables est l'incertitude du seuil de dommages du cristal de Ti : Saphir. Nous avons d'abord caractérisé le seuil diélectrique de dommages du Ti : Saphir.



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