Numéro
J. Phys. IV France
Volume 135, October 2006
Page(s) 281 - 282
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2006135089
Publié en ligne 23 novembre 2006
Neuvième colloque sur les lasers et l'optique quantique
C. Chardonnet et G. Millot
J. Phys. IV France 135 (2006) 281-282

DOI: 10.1051/jp4:2006135089

De la mesure de pertes à la caractérisation dynamique de dispositifs semiconducteurs

L. Lanco1, A. De Rossi2, S. Ducci1, G. Leo1, X. Marcadet2, M. Calligaro2 and V. Berger1

1  Laboratoire "Matériaux et Phénomènes Quantiques", Université Paris 7, 2 place Jussieu, Case 7021, 75251 Paris, France
2  Thales Research and Technology, Route Départementale 128, 91767 Palaiseau, France


(Publié en ligne 23 novembre 2006)

Résumé
Nous proposons deux extensions de la méthode Fabry-Pérot, permettant la mesure des pertes optiques dans les guides d'onde semiconducteurs multimodes ainsi que la caractérisation dynamique de la température et des pertes dans un dispositif semiconducteur actif.



© EDP Sciences 2006