Numéro
J. Phys. IV France
Volume 04, Numéro C4, Avril 1994
3rd International Conference Laser M2P
Page(s) C4-709 - C4-709
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:19944187
3rd International Conference Laser M2P

J. Phys. IV France 04 (1994) C4-709-C4-709

DOI: 10.1051/jp4:19944187

Laser-based atomic spectroscopy for trace analysis

P. MAUCHIEN

Centre d'Etudes de Saclay, DPE-SPEA, Bât. 391, Analytical Laser Spectroscopy Group, 91191 Gif-sur-Yvette, France

Without abstract




© EDP Sciences 1994
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