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Issue J. Phys. IV France
Volume 103, février 2003
Page(s) 305 - 319
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:200300012



J. Phys. IV France
103 (2003) 305
DOI: 10.1051/jp4:200300012

Analyse des contraintes résiduelles et de la texture dans les matériaux : applications industrielles

P.J. Webster

Institut d'Ingénieurerie des Matériaux, École en Aéronautique, Génie Civil et Mécanique, Université de Salford, Manchester, U.K.

Résumé
Les contraintes résiduelles s'introduisent lors de l'ingénierie des composants au cours de leur fabrication et également au cours de leur utilisation. Elles sont importantes parce qu'elles peuvent avoir des magnitudes proches de la limite apparente d'élasticité et peuvent par conséquent affecter considérablement la performance et la durée de vie des composants. Les ingénieurs concepteurs doivent être en mesure de calculer et de mesurer les champs de contraintes résiduelles afin de s'assurer de l'intégrité des composants. Cet article décrit les techniques expérimentales utilisées pour déterminer des champs de contraintes résiduelles en faisant référence plus précisément à la diffraction des neutrons et à la diffraction des rayons X obtenus par synchrotrons. On y discute de la théorie et de l'applicabilité de ces techniques. Cet article comprend un certain nombre de cas étudiés à titre d'exemple. Il renvoie aussi à l'évolution des étalons internationaux de mesure de contraintes résiduelles et aux développements à venir.



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